ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Прецизионное определение постоянных кристаллической решетки из "Практические вопросы испытания металлов " На нормализованной медной проволоке провести прецизионное определение параметров кристаллической решетки. В камере Дебая-Шеррера с медным анодом (никелевый фильтр) снять рентгенограмму образца на асимметрично установленную фотопленку и произвести ее оценку, т. е. определить угол отражения, милле-ровские индексы и постоянную кристаллической решетки [22, с. 114—142 23, с. 221—235 24, с. 145—158]. [c.147] Повышению точности способствует также корректировка поглощения образца. Теоретические основы этого метода такие же, что н для метода Дебая—Шеррера (опыт 23). [c.148] На основании измерения расстояний между линиями, согласно уравнениям (3) и (4), было рассчитано значение половины длины окружности кассеты L = 89,2 мм. Отсюда по уравнению (1) получаем поправочный коэффициент, равный 1,01. [c.150] На рис. 75 представлены значения а в зависимости от величины os и через полученные точки проведена усреднительная линия. Она пересекает ординату в точке = 361,54 пм. Эта величина является, таким образом, значением постоянной кристаллической решетки медного образца. [c.151] Вернуться к основной статье