ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Селективный магнитографический дефектоскоп с цифровым отсчетом из "Техника магнитографической дефектоскопии " Несомненно, что новый способ телевизионного преобразования рельефа магнитной записи, который будет подробно описан в последующей главе, отличается большой наглядностью результатов анализа и открывает широкие возможности для выделения сигналов, обусловленных дефектом, из фона помех, обусловленных формой усиления сварного шва. Но очевидно, что импульсный способ воспроизведения магнитной записи имеет более высокие точность и разрешающую способность, чем телевизионные методы преобразования. [c.180] Таким образом, техника магнитографической дефектоскопии требует применения двух видов индикации. Однако, на наш взгляд, совмещение двух видов индикации в одном приборе нецелесообразно, так как в таком дефектоскопе-комбайне трудно раскрыть все преимущества импульсных и телевизионных систем воспроизведения. [c.180] Контакт К служит для переключения магнитных головок с интегрального на дифференциальный режим воспроизведения. магнитной записи. [c.181] Канал вертикального отклонения 3 состоит из детектора, предусилителя и основного усилителя вертикального отклонения, последний каскад которого собран по обычной бестрансформаторной двухтактной схеме на кремневых транзисторах КТ-805, работает в режиме АВ. [c.181] кроме калибровочного устройства (рис. 5.27), содержит цифровой сумматор дефектов 4. Цель последнего — автоматизация процесса общей оценки исследуемого сварного соединения. [c.182] Обычный режим работы СМДЦ — с разомкнутым контактом К. В этом случае сигналы, наблюдаемые на экране ЭЛТ, параллельно поступают на амплитудные селекторы 5, откуда в зависимости от величины сигнала поступают в соответствующие схемы антисовпадений 6. Таким образом, на пересчетные устройства 7, работающие синхронно с движением магнитной ленты, поступают команды из блоков 6 и 5 для высвечивания на индикаторе (лампы Л], Л2 и Лъ) цифр, характеризующих общую протяженность определяемых дефектов (по величине дефектов 5%, 10 или 15% или по характеру в зависимости от требуемой точности анализа). [c.182] Вернуться к основной статье