Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама
Для магнитографической дефектоскопии определенный интерес представляют характер изменения намагниченности металла вдоль сечения сварного соединения и величина поля подмагничивания, действующего на ленту при магнитной записи дефектов в различных сварных соединениях. В этом случае хорошо известные баллистические методы магнитных измерений становятся неприемлемыми вследствие сложной формы усиления сварного шва. Поэтому для измерения магнитной индукции в различных сечениях сварного шва целесообразно использовать косвенный способ, заключающийся в определении напряженности магнитного поля на поверхности образца и на.хождении величины магнитной индукции по кривой намагничивания, снятой для данного изделия (намагничивание должно осуществляться в замкнутой магнитной цепи). Измерения тангенциальной составляющей напряженности поля непосредственно на поверхности образцов в этом случае производят магнитографическим способом с помощью локальных ленточных датчиков (ЛЛД) [109].

ПОИСК



Экспериментальные исследования топографии магнитного поля в зоне сварного шва

из "Техника магнитографической дефектоскопии "

Для магнитографической дефектоскопии определенный интерес представляют характер изменения намагниченности металла вдоль сечения сварного соединения и величина поля подмагничивания, действующего на ленту при магнитной записи дефектов в различных сварных соединениях. В этом случае хорошо известные баллистические методы магнитных измерений становятся неприемлемыми вследствие сложной формы усиления сварного шва. Поэтому для измерения магнитной индукции в различных сечениях сварного шва целесообразно использовать косвенный способ, заключающийся в определении напряженности магнитного поля на поверхности образца и на.хождении величины магнитной индукции по кривой намагничивания, снятой для данного изделия (намагничивание должно осуществляться в замкнутой магнитной цепи). Измерения тангенциальной составляющей напряженности поля непосредственно на поверхности образцов в этом случае производят магнитографическим способом с помощью локальных ленточных датчиков (ЛЛД) [109]. [c.63]


Вернуться к основной статье

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте