ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы определения основных характеристик и параметров искателей из "Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий " Требования к элементам структурных схем (рис. 40) определяют из условий неискаженной передачи пмпульсов в исследуемом диапазоне частот, Шунтирующее сопротивление Дд выбирают из условия Дщ I 2п I в исследуемой области частот, В качестве измерительного преобразователя использ чот широкополосные преобразователи, например емкостной. Значения характеристических импедансов образца и контролируемого изделия должны быть близкими, а затухание в материале образца малым. [c.194] Характеристики направленности определяют тремя способами. [c.194] Вернуться к основной статье