ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Аппаратура для магнитопорошкового контроля из "Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий " Промышленность развитых стран выпускает дефектоскопы, вспомогатель-чое оборудование и материалы для магнитонорошкового контроля. [c.39] Основные узлы дефектоскопов следующие источники тока, устройства для подвода тока к детали, устройства для полюсного намагничивания (соленоиды, электромагниты), устройства для нанесения на контролируемую деталь суспензии, осветительные устройства, измерители тока (или напряженности поля). [c.39] В зависимости от назначения в дефектоскопах могут быть не все из перечисленных узлов, но могут быть и дополнительные узлы (например, узлы для автоматического перемещения детали и механической разбраковки, дефекто-отметчики и т. п.). [c.39] Многие магнптопорошковые дефектоскопы имеют трансформаторный выход. Его недостаток связан с образованием отрицательного выброса тока (прп создании в детали остаточной намагниченности), который частично или полностью может размагнитить деталь. Поэтому нри контроле способом остаточной намагниченности необходимо принимать меры к исключению отрицательных выбросов тока. Это достигается установкой диодов во вторичной цепи выходного трансформатора, а также применением специальных способов намагничивания, например двумя последовательными импульсами одной полярности и следующим за ними одним импульсом тока противоположной полярности [47, 48]. [c.40] Стационарные универсальные дефектоскопы получили широкое распространение на предприятиях крупносерийного (или мелкосерийного) производства разнотипных деталей. На таких установках можно контролировать детали различной конфигурацпп, отдельные и партиями с производительностью от десятков до многих сотен деталей в час. Скорость контроля резко возрастает прп использовании магнитолюминесцентного способа. [c.40] На стационарных универсальных установках можно производить намагничивание всеми известными способами (циркулярное, полюсное, комбинированное), контроль в приложенном поле и способом остаточнох намагнпченности. [c.40] В СССР и за рубежом широкое распространение получили передвижные и переносные (менее мощные) дефектоскопы. Как правило, они представляют собой источнпкп переменного, постоянного (однополупериодновыпрямлепного) п реже импульсного тока. Иногда один дефектоскоп позволяет работать с двумя видами тока. [c.41] Передвижные и переносные дефектоскопы предназначены для намагничивания и контроля деталей в условиях, когда невозможно применять стационарные дефектоскопы, например при намагничивании крупногабаритных деталей по частям, в случае работы в полевых условиях и т. п. Как правило, такие дефектоскопы снабжают комплектом материалов для контроля (сухие порошки и устройства для их напыления, сосуды с суспензией и т. п.). [c.41] Передвижные и переносные дефектоскопы (рис. 28) позволяют производить циркулярное намагничивание с помощью токовых контактов, помещаемых на участке детали, продольное намагничивание с помощью кабеля, навиваемого на деталь, или иногда с помощью электромагнита. Технические характеристики дефектоскопов приведены в табл. 9. [c.41] Известно более 100 типов спецпалпзпрованных дефектоскопов. Как правило, это автоматизированные установки, в которых иногда все операции, кроме осмотра, автоматизированы. Эти устаиовки (рис. 29) предназначены для контроля деталей одного типа прп Крупносерийном производстве. [c.47] В нашей стране получили значителг.ное распространение специализированные полуавтоматы для намагничивания деталей с последующим их контролем способом остаточной намагниченности. К таким полуавтоматам, в частности, относятся установки для намагничивания колец ПК-2 и МЭ-202 п ролпков подшипников ДЦН, ПНК-1 и др. [c.47] Необходимой принадлежностью магнптопоротковых дефектоскопов являются контрольные образцы с тонкими дефектами. Они помогают установить, что оборудование и материалы для контроля являются качественными, а технология контроля соблюдается достаточно точно. [c.47] Контрольные образцы подбирают пз числа бракованных деталей. Дефекты в них можно считать достаточно тонкими, если при контроле способом приложенного поля они обнаруживаются ири режиме, соответствующем уровню чувствительности А и не выявляются нри режиме контроля, соответствующем уровню чувствительности Б (см. стр. 49). Если позволяют магнитные характеристики материала контрольного образца, его можно использовать п при контроле способом остаточной намагниченности. [c.47] Вернуться к основной статье