ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Гомохромная фотометрия из "Вакуумная спектроскопия и ее применение " Сравнение двух излучений одинакового спектрального состава в вакуумной области спектра в принципе ничем не отличается от такого же сравнения в близкой ультрафиолетовой области. При фотоэлектрической регистрации может быть использован любой детектор, чувствительный к вакуумной области спектра. При фотографической регистрации марки почернения так же, как и в видимой области, можно наносить, изменяя ширину щели при регистрации сплошного спектра. Но не все обычные методы калибровки пластинок и нанесения на них марок почернения оказываются пригодными так, например, методы построения характеристических кривых с использованием ступенчатых ослабителей не годятся (трудно подобрать материалы для изготовления ослабителя, прозрачного в этой области). Кроме того, большинство приборов, применяемых для вакуумного ультрафиолета, астигматичны, что затрудняет применение ослабителей. [c.240] Для построения характеристических кривых можно использовать известные отношения интенсивностей в мультиплетах. Так, например, для линий легких атомов с малым числом внешних электронов правило интенсивностей для 5-св(Язи соблюдается достаточно хорошо и тогда отношение интенсивностей составляющих мультиплета рассчитывается теоретически. [c.241] Прежде чем применять этот метод, необходимо убедиться в отсутствии реабсорбции. Кроме того, следует указать, что в тех случаях, когда составляющие мультиплета имеют общий верхний уровень, результаты будут более надежны. Если же составляющие мультиплета имеют различные верхние уровни энергии, то метод применим только при наличии известного, в частности, больцмановского, распределения ато мов или ионов по этим уровням. Метод мультиплетов является вспомогательным. Он применим только после его предварительной проверки другими методами. Отношение интенсивностей в некоторых мультиплетах N I, А1 1П, 51 IV и других ионов проверялось в ряде работ [43—45] и оказалось в хорошем соответствии с теорией. Отношение интенсивностей компонент мультиплета может быть измерено с помощью приемника с известной, например, линейной, характеристикой. (В широком диапазоне такую характеристику имеет ФЭУ.) Измеренное (не теоретическое) отношение интенсивностей позволяет найти наклон характеристической кривой [46]. Вместо измерения интенсивностей линий мультиплета можно измерять относительные интенсивности линий вращательной структуры молекулярных полос, например, водорода [42]. [c.241] Во избежание таких ошибок Джонс [46] предложил использовать регулируемую ступенчатую щель, градуировка которой осуществляется с помощью фотоэлемента, измеряющего световые потоки от разных ступенек щели в спектре нулевого порядка. [c.242] Чтобы избежать многократного экспонирования, можно для построения характеристической кривой использовать два-три снимка, применив метод параллельного переноса участков характеристической кривой, построенных для близких линий различной яркости [48, 49]. [c.242] Если интенсивность не искажается реабсорбцией. [c.242] Вернуться к основной статье