ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы исследования хемосорбционных пленок из "Физико-химическая кристаллография " Хемосорбционные пленки могут быть исследованы различными методами. Важнейшими из них являются инфракрасная спектроскопия, измерение контактных потенциалов и работы выхода электронов, электронная микроскопия, метод ионного проектора, а также дифракция медленных электронов. Если первые три метода дают только интегральные сведения о виде и толщине адсорбционных пленок, то два других обеспечивают прямое определение позиций атомов и тем самым дают сведения о структуре адсорбционных слоев. [c.361] Инфракрасная спектроскопия. Все вещества (кристаллы, жидкости, газы) поглощают в инфракрасном спектре в характерных для них спектральных диапазонах. Полосы поглощения, близкого к инфракрасному, могут быть отнесены к колебательным или вращательным полосам, по которьш можно судить о частотах колебаний и вращениях всей молекулы или отдельных ее частей относительно друг друга. [c.361] Таким образом, по полосам поглощения можно су дить о структуре молекул. Если применить в качестве адсорбента металлы с непрерывным поглощением, то полосы поглощения адсорбата (газа) могут быть использованы для исследования адсорбционных процессов. [c.361] На рис. 14.13 представлены инфракрасные спектры окиси углерода СО, адсорбированной на различных переходных металлах. Из сдвига частоты полос поглощения СО, которые снимали для сравнения и для газообразного состояния, можно сделать вывод о химическом взаимодействии с металлами. Отсюда следует, что сдвиг частоты значителен у металлов, которые вступают в соединение с СО, образуя карбонилы (например, N1, Ре). Меньшие сдвиги наблюдаются у металлов, химические соединения которых с СО неизвестны (например, Си, Р1). Таким образом, существуют различные поверхностные соединения, которые неизвестны в объемной форме с трехмерной структурой. Тщательная обработка спектров дает дополнительные данные о состояниях соединений в адсорбционном слое. [c.362] Определенные примесные атомы изменяют работу выхода лежащих под ними собственных атомов поверхности кристалла. Соответствующие изменения (повышение или понижение) эмиссии электронов позволяют выявить зоны адсорбции благодаря появлению светлых или темных мест на автоэлектронномикроскопическом снимке. Таким путем можно непосредственно проследить кинетику процесса адсорбции. [c.364] Преимущество этого метода по сравнению с автоэлектронной микроскопией или использованием ионного проектора состоит в том, что при дифракции медленных электронов не нужны сильные внешние электрические поля поэтому нет и деформации поверхности. Вместе с тем силы, которые удерживают адсорбированные атомы на поверхности, имеют величину не ниже напряженности поля. Поэтому результаты метода дифракции медленных электронов могут быть использованы для анализа нормального состояния поверхности. Кроме того, можно проследить кинетику процесса адсорбции в зависимости от давления остаточного газа и от температуры. [c.367] Вернуться к основной статье