ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методы определения поверхностной и межфазной энергии из "Физико-химическая кристаллография " Понятие поверхностей энергии оказалось чрезвычайно полезным для анализа многих поверхностных явлений, особенно явлений роста кристаллов. Если принимать удельную свободную поверхностную энергию как работу, которую необходимо израсходовать, чтобы разорвать связи, то из этого неизбежно следует, что а анизотропна и для различных граней кристалла имеет разную величину. Поэтому значение а находится в тесной связи со спайностью кристаллов. Зная величины ст для различных граней кристалла, можно в принципе определить равновесную форму кристалла (см. 13.6). [c.253] Экспериментальное определение удельной свободной поверхностной энергии жидкостей легко доступно, так как поверхность жидкости может быть увеличена без затруднений, причем работа, затрачиваемая на это увеличение, полностью расходуется на образование поверхности. Поверхности кристаллов, напротив, не могут увеличиваться таким простым путем. Различные доли затраченной механической работы потребляются на пластическую деформацию, а также превращаются в теплоту. Поэтому поверхностная энергия, измеренная по затрате механической работы, получается слишком большой. [c.253] В противоположность поверхностной энергии жидкостей измерить свободную поверхностную энергию кристаллов значительно труднее, при этом данные, полученные различными методами, колеблются в широких пределах, часто различаясь в несколько раз. Этот разброс обусловлен прежде всего влиянием условий опыта и влиянием реальной структуры кристаллов. Наличие различных элементарных дефектов (например, точечные дефекты, отдельные дислокации или их скопления возле границ зерен и т. д.) и микроскопических нарушений (например, микротрещины, которые являются источником концентрации напряжений) или других видов неоднородности (например, скопления химических загрязнений) влияет на поверхностную энергию. В ряде случаев разброс вызывается влиянием адсорбционных явлений на границе фаз кристалл — окружающая среда, так как теоретические значения а справедливы для поверхности раздела кристалл — вакуум. В то же время во многих случаях измеряют значения поверхностных энергий не достаточно чистых поверхностей. Поэтому для различных граней кристалла, существует только несколько достоверных значений а. [c.256] Вернуться к основной статье