ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Зеркальное отражение света от поверхности из "Лазерная термометрия твердых тел " Результат взаимодействия света с одной поверхностью проявляется в двух случаях а) если образец непрозрачен настолько, что отражение от второй поверхности отсутствует б) если падение света на поверхность прозрачного образца происходит таким образом, что на поверхность фотоприемника падает только отраженный пучок нулевого порядка (например, на прозрачную пластинку свет должен падать под углом, чтобы произошло пространственное разделение отраженных пучков разных порядков). [c.42] В видимом диапазоне спектра это выражение с хорошей точностью описывает не только отражение света от поверхности прозрачных материалов (стекло, щелочно-галоидные кристаллы и т. д.), но и от поверхности многих полупроводниковых кристаллов, которые визуально совершенно непрозрачны уже при толщине в доли миллиметра. Например, для монокристалла кремния на длине волны He-Ne лазера Л = 633 нм 9 и я 0,02) коэффициенты отражения, полученные с помощью выражений (2.23) и (2.24), отличаются на 0,003%, что несущественно. То же выполняется при облучении кремния на второй гармонике Л = = 532 нм лазера на алюмо-иттриевом гранате (п 4,1 и я 0,05). Однако для излучения азотного лазера в ближнем УФ диапазоне (Л = = 337 нм, п 1=а 5,2 и я 3,1) мнимая часть комплексного показателя преломления кремния уже играет существенную роль результаты. [c.43] 26) следует, что при п = tg(p коэффициент отражения пучка, поляризованного в плоскости падения, равен нулю. Угол (рр = ar tg п называется углом Брюстера. Углы Брюстера лежат в диапазоне от 45° (при п = 1) до 90°. Практически при угле падения, равном углу Брюстера, наблюдается ненулевой (хотя и очень малый) коэффициент отражения света [2.7]. Это связано с приближенным характером формул Френеля, в которых не учтены отличия оптических свойств тонкого приповерхностного переходного слоя от оптических свойств материала в объеме. [c.44] Параметры эллипса поляризации зависят от оптических свойств поверхности, и измерение этих параметров (эллипсометрия) в последние 204-30 лет стало одним из распространенных и наиболее эффективных оптических методов исследования поверхности твердых тел [2.12]. Вследствие высокой чувствительности к малым изменениям оптических параметров эллипсометрию стали применять и для термометрии поверхности. [c.48] Вернуться к основной статье