ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Интерференция поляризованных лучей из "Волновая оптика " Все предыдущее исследование проводилось для некоторого выбранного направления колебаний излучающих атомов в источнике света, т.е. рассматривалось излучение вполне определенной поляризации. Не представляет труда распространить полученные выводы на случай поляризованного света, но здесь необходимо более тщательно исследовать вопрос об интерференции поляризованных лучей, в частности наложение интерференционных картин, создаваемых волнами, поляризованными во взаимно перпендикулярных направлениях. Здесь снова окажется полезным идеализированное устройство из двух параллельных пластин, отражающих свет и использованных при описании прост-ранс гвенной когерентности в 5.3. [c.203] В самом общем случае суперпозиции двух произвольных электромагнитных полей Ej и Е2 (см. 5.1) было установлено, что равенство нулю среднего значения интерференционного члена EiE2 исключает возможность возникновения интерференции и в этом случае интенсивности (освещенности) просто складываются. Лишь в тех областях пространства, где EjE2 О, происходит интерференция. Но в 5.3 рассчитывалось наложение независимых интерференционных картин, осуществляемое с помощью простого оптического устройства. Видимость суммарной картины в некоторых случаях приближалась к единице. Это получалось тогда, когда при почти одинаковой ширине интерференционных полос максимумы одной их системы совпадали с максимумами другой. Очевидно, что этот метод пригоден и для случая Е хЕз, к изучению которого мы сейчас и перейдем. [c.203] Пусть имеются две электромагнитные волны, поляризованные во взаимно перпендикулярных направлениях, не интерферирующие одна с другой. С помощью оптических устройств можно разложить кансдую волну на две и получить две системы интерференционных полос, свести их вместе в какой-то области пространства и зарегистрировать отличную от нуля видимость суммарной картины. Рассмотрим эту возможность подробнее, исследуя наложение интерференционных полос, создаваемых источником неполяризованного света. [c.203] Известно, что излучение такого источника представляет собой сумму двух поляризованных во взаимно перпендикулярных направлениях электромагнитных волн, фазы которых никак не скоррелированы. Пусть колебания Е в одной из таких волн происходят в плоскости чертежа (отлично от нуля только Е ), а в другой волне вектор Е колеблется перпендикулярно этой плоскости (отлично от нуля только Еу). [c.203] Для неполяризованного света, распространяющегося в изотропной среде, условие (5.35) соблюдается и при наблюдении интерференции могут быть использованы различные оптические схемы. [c.205] выяснена возможность наблюдения суммарной картины с видимостью, отличной от нуля, при освещении экрана через какую-либо оптическую систему излучением, состоящим из двух волн, поляризованных во взаимно перпендикулярных направлениях (в частности, источником неполяризованного света). [c.205] Решим в общем вид( задачу об интенсивности света, прошедшего через систему, изображенную на рис. 5.23. [c.206] Если р = О, 71/2, 71,. . ., то свет вообще не пройдет через анализатор, каь ова бы ни была толщина пластинки, т. е. (/,)ми - 0. [c.208] Обычно в опытах подобного рода изучают не интенсивность или oKpa i y света, выходящего из системы, а наблюдают изменение интерференционной картины. Для этого необходимо осветить кристаллическую пластинку, помещенную между двумя Николями, непараллельным пучком света и спроецировать линзой картину на экран. В проходящем свете наблюдаются интерференционные полосы, соответствующие постоянной разности фаз. Их форма существенно зависит от взаимной ориентации поляризаторов и оси кристаллической пластинки. [c.208] При анализе условий возникновения полос следует иметь в виду, что u i e t zo множества параллельных пучков лучей, падающих на пластинку под близким к нормальному углом, обычно найдется такой, который удовлетворяет условию появления максимума интерференции. Вся система полос будет локализована в бесконечности. [c.208] Интерференционную картину с большим количеством полос можно наблюдать при освещении кристаллической пластинки сильно сходшцимся пучком света. Для этого после поляризатора устанавливают короткофокусную линзу (рис. 5. 2г ),а). Возникающие интерференционные полосы удобно наблюдать не на весьма удаленном экране, а в фокальной плоскости проецирующей линзы, помещенной между кристаллической пластинкой и анализатором. [c.208] Если пластинка изготовлена из двухосного кристалла, то характер интерференционных полос окажется совсем иным (рис. 5.25,й). [c.209] Следовательно, мы располагаем очень чувствительным способом контроля качества оптических изделий, изготовленных из кристаллов. Более того, наблюдение интерференционной картины, возникакнцей в любой пластинке, помещенной между двумя поляризаторами, может служить способом обнаружения слабой анизотропии материала, из которого она изготовлена. Высокая чувствительность такой методики открывает возможность различных приложений в кристаллографии, физике высокомолекулярных соединений и в других областях. [c.209] Вернуться к основной статье