ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Компенсатор Бабинэ из "Оптический метод исследования напряжений " Компенсатор Бабинэ состоит из тонкого кварцевого клина, оси поляризации которого параллельны и перпендикулярны к ребру клина. [c.68] Клин помещается перед кристаллической пластинкой, для которой желательно измерить относительное отставание d(n — п . [c.68] Предположим прежде всего, что ни в кварце, ни в кристаллической пластинке нет никакой дисперсии двойного лучепреломления. [c.68] Допустим далее, что оси поляризации кристаллической пластинки были найдены вращением ее в полярископе (при отсутствии кварцевого клина) до тех пор, пока свет не погасал. [c.68] Пусть теперь клин будет помещен так, чтобы его оси поляризации были параллельны осям поляризации кристаллической пластинки. [c.68] Тогда отбрасывая множители уменьшения интенсивности, происходящего вследствие отражения на поверхностях и вследствие поглощения, и исходя из предположения, что эти множители достаточно равны для двух противоположно поляризованных лучей и, Следовательно, не будут влиять на результат, мы можем считать, что относительное отставание в клине слагается с относительным отставанием в кристаллической пластинке. [c.68] Предположим теперь, что клин был повернут так, что Vj—Vg (v,, Vg — показатели преломления клина, соответствующие j, 2) имеет противоположный Фиг. 1.36. знак по отношению к — п . [c.68] Это представляется черной полосой, пересекающей клин. По обеим сторонам от нее мы имеем ряды цветных полос, в последовательности цветов кристаллических пластинок. Замечая положение этой черной полосы, можно получить х из геометрических размеров клина, а затем найти и d n — п ). [c.68] На практике, для того чтобы избежать предварительного опыта по ориентировке компенсатора Бабинэ, необходимой для того, чт обы Vj — Vg имела противоположный по отношению к и, —знак, применяется двойной клин (фиг. 1.36), причем оси поляризации обоих клиньев взаимно перемещены. [c.68] Микрометрический винт дает возможность перемещать один клин по отношению к другому на расстояние t, которое измеряется с большой точностью микрометром. Пусть клин будет вначале один введен в полярископ. Он будет пересекаться черной полосой в той части, где толщина обоих клиньев одинакова. Поворотом винта черная полоса может быть приведена к совпадению с определенной меткой АВ на поверхности клина. [c.68] Вернуться к основной статье