ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Некоторые методические и конструктивные требования из "Металловедение и термическая обработка стали Справочник Том1 Изд4 " Преимущества комплексного подхода реализуются при выполне НИИ двух наиболее важных требований. Во-первых, это возможность использовать два или более методов без перемещения образца от прибора к прибору. Это позволяет избежать загрязнений, которые могут повлиять на поверхностный состав и исказить результаты. Желательно также анализировать каждым методом один и тот же участок поверхности, чтобы можно было сопоставить данные. [c.127] Во-вторых, все анализы необходимо проводить в условиях высокого вакуума (10 —10 торр) . При такой малой глубине анализа, как в методе ОЭС, например, чрезвычайно возрастает роль атомов и пленок газа, адсорбированного на исследуемой поверхности. Они усложняют Оже-спектр, снижают его интенсивность и могут совершенно исказить — не только количественно, но даже качественно — результаты анализа. Поэтому анализ необходимо проводить на максимально атомночистой поверхности, которую получают разрушением непосредственно в вакуумной камере, высокотемпературным прогревом, или ионной бомбардировкой с последующим отжигом. Наличие сверхвысокого вакуума совершенно необходимо для получения и анализа свежеприготовленной поверхности, особенно если используют несколько методов, что сильно увеличивает продолжительность эксперимента. Важно подчеркнуть, что сверхвысокий вакуум создают (за редким исключением) безмасляными средствами откачки во избежание загрязнения исследуемой поверхности углеродом. Обычно применяют турбомолекулярныё насосы или комбинации турбомолекулярных, магнитных электроразрядных и титановых испарительных насосов. [c.127] Принципиально спектрометр содержит следующие основные элементы источник облучения, анализатор, устройство для приготовления и манипуляции с образ цами, вакуумную систему. [c.127] Шлюзовая камера позволяет быстро (в течение 2—3 мин) вводить образцы через шлюзы в рабочую камеру со сверхвысоким вакуумом и обеспечивает возможность обработки (нагрева, охлаждения) образцов в широком интервале температур (от —150 до 4-700 °С) в атмосфере реактивных газов перед введением образцов в рабочую камеру. [c.128] Вернуться к основной статье