ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Косвенные методы исследования. Одноступенчатые отпечатки из "Практика электронной микроскопии " В некоторых областях науки, и прежде всего в металловедении, решение целого ряда проблем неразрывно связано с изучением структуры поверхности массивных непрозрачных тел, в частности металлов. Аналогичное положение мы встречаем в геологии, минералогии, химии, физике твердого тела, керамическом производстве и т. п. [c.41] Непосредственное изучение таких поверхностей возможно лишь в отражательном, эмиссионном или растровом микроскопах, наблюдение объектов в которых может быть отнесено также к прямым методам исследования. Однако наибольшее распространение имеют электронные микроскопы просвечивающего типа, обладающие наибольшим разрешением из всех перечисленных типов, и потому для изучения структур поверхностей непрозрачных тел были разработаны и успешно применяются косвенные методы. [c.41] При косвенном методе в электронном микроскопе исследуется не сам объект, а копия, или отпечаток его поверхности . Методы отпечатков, которых в настоящее время насчитывается около ста, различаются между собой как по технике изготовления отпечатков, так и по применяемым для их получения материалам. Это многообразие методов обусловлено тем, что большинство из них применимо лишь к определенному классу объектов, более или менее широкому, для которого они были разработаны, в результате чего при перемене объекта исследования приходится часто менять и метод его препарирования. [c.41] Ниже мы приводим описание большинства наиболее употребительных методов, их сравнительные характеристики и области применения. [c.41] Описываемые ниже типы отпечатков в разной степени удовлетворяют различным из перечисленных требований, вследствие чего в каждом конкретном случае приходится выбирать оптимальный метод получения отпечатка. [c.42] Вернуться к основной статье