ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Переносные приборы для измерения механических свойств по твердости из "Контроль надежности металла объектов котлонадзора Справочное пособие " В приборах конструкции МЭИ усилие, приложенное к рукоятке, передается к головке прибора и от индентора, представляющего собой шар диаметром 10 или 2,5 мм, через шток передается на силоизмерительную пластинку, прогиб которой измеряется индикатором. После нанесения отпечатка головка отводится в сторону до упора. При этом оптическая ось микроскопа совпадает с центром отпечатка. Диаметр отпечатка измеряется с точностью до 0,0025 мм. Приборы типа МЭИ-Т1, МЭИ-ТЗ и МЭИ-Т7 отличаются в основном конструктивным исполнением крепления к испытуемым узлам и деталям. Максимальная нагрузка, которую обеспечивают приборы этого типа, составляет 2500 П в приборе МЭИ-Т7. Серия приборов МЭИ-Тб(А), МЭИ-Т9 и МЭИ-Т-ЮА предназначена для построения диаграмм твердости в упругой области и в области малых пластических деформаций. Эти приборы применяются в основном в исследовательских целях и не позволяют получить характеристики, являющиеся контрольными для котельных материалов. [c.35] Семейство приборов Волгоградского политехнического института позволяет измерять твердость с заданной энергией удара с использованием эталонов. Прибор ВПИ-2 имеет сферический индентор, который вдавливается ударом заданной энергии от пружинного устройства. Прибор состоит из корпуса, взводного, пускового и ударного устройств. Для проведения испытаний в окно головки вставляется эталон сечением 12X12 мм с известной твердостью НВ. При испытании шар одновременно внедряется в эталон и в испытуемую поверхность с усилием, обусловленным действием спусковой пружины. Для измерения диаметров отпечатков применяется отсчетпый микроскоп Бринелля МПБ-2. [c.35] Для определения 0в и Сто,2 по динамической твердости, получаемой с помощью приборов типа ВПИ, предложен ряд зависимостей. Однако в связи с большим разбросом данных определение ударной твердости менее надежно, чем статической. Применение этих приборов требует высокой чистоты поверхности в связи с небольшой величиной отпечатка и возможностью значительной погрешности при измерении отпечатка. [c.35] Вернуться к основной статье