ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Свойства идеальных кристаллов и реальных металлов из "Механика сплошных сред " Современная техника исследования металлов позволяет изучать их свойства в микрообьемах, наибольшие размеры которых соизмеримы с межатомными расстояниями. Современные микроскопы высокого разрешения в некоторых случаях позволяют наблюдать отдельные атомные плоскосги и дислокашш в кристаллах фис. 32). Однако в процессах ОМД деформированию обычно подвергаются объемы металла с размерами, значительно превышающими эти расстояния, что приводит к необходимости использования в расчетах среднестатистических свойств. [c.116] Тенденция развития методов МСС решения задач и физичеосих методов исследования свойств металлов не случайна. Она предопределяется постоянньш совершенствованием техники с соответствующим ростом требований, предъявляемых к качеству металлов и изделий из них, к уровню и стабильности их свойств. В настоящее время методы МСС начинают использовать для формализации результатов исследований строения металлов, образования и движения дислокаций, а результаты металлофизических исследований все шире привлекаются к математическому описанию поведения деформируемых металлов. [c.117] +Tb-(T, Tj + Td-(T, T, Tj +. .. (1.5.6) Однако дня инжшерных расчетов в большинстве случаев достаточно использовать соотношения типа (1.5.1)...(1.5.4). [c.118] Для примера в табл. 1 приведета анизотропия модулей упругости некоторых металлов с различным кристаллическим строением, характеризуемым координационным числом - числом атомов, находящихся на одинаковом расстоянии от рассматриваемого атома. [c.119] Примечание буквенные индексы принимают все цифровые значения, соответствующие индексам преобразований симметрии в табл. 2. [c.123] Точно так же можно показать, что среды любого класса моноклинной системы характеризуются таким же количеством независимых компонент тетзора состояния в соотношении (1.5.1). [c.124] Отметим, что преобразование симметрии Д- представляет повороты координат на 180° вокруг осей д ,-, преобразования М, - повороты на 120° и 240° относительно кристаллографического направлшия [111], а преобразования 5,- - повороты на 120° и 240° относительно оси х . Поэтому трансверсально изотропные материалы являются обобщениями тех сред, свойства которых инвариантны к перечисленньш преобразованиям. [c.126] В предыдущем пункте примеры соотношений между параметрами напряженного и деформированного состояний показаны с помощью тензоров малых деформаций и скоростей деформаций. [c.127] Вернуться к основной статье