ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Фрактальные свойства микроструктуры поверхности офсетных печатных форм из "Фрактальная механика материалов " Построение теории печатных процессов требует детального изучения взаимодействия всех компонентов, участвующих в технологической цепочке переноса краски печатная форма — офсетное полотно — бумага. Учитывая стохастический характер поверхности полиграфических материалов, такое изучение в полном объеме в настоящее время возможно только при использовании математического моделирования на основе теории фракталов. [c.257] При построении теории представляется полезным связать все вышеперечисленные особенности технологических свойств печатных форм с такой характеристикой микроструктуры их поверхности, как фрактальная размерность. [c.258] Для определения фрактальных свойств офсетных пластин была использована описанная в параграфе 7.1 методика, разработанная для исследования микрогеомет — рии поверхности бумаги. На первом этапе работы были выполнены эксперименты по построению микропрофилей образцов печатных форм. [c.258] По величине фрактальной размерности можно судить о микроструктуре исследуемых поверхностей офсетных монометаллических пластин и сделать выводы относительно технологических свойств офсетных печатных форм. [c.258] Для анализа влияния величины экспозиции, полученной копировальным слоем, на его фрактальную размерность выполнили следующий эксперимент. Была скопирована сенситометрическая полутоновая шкала СПШ —К и после проявления сняты профилограммы участков формы, изготовленной на пластине Virage. [c.260] Сенситометрическая прозрачная полутоновая шкала СПШ — К — это оптический клин, содержащий 11 полей. Шкала СПШ —К служит для контроля экспозиции в процессе копирования. [c.260] Профилограммы представляли собой профили первых четырех полей с интервалом оптических плотностей 0,15— 0,6 и полей 5—8 шкалы на форме с интервалом оптических плотностей 0,75—1,2. Девятое, десятое и одиннадцатое поля не измерялись, так как это практически штриховые элементы. [c.260] Результаты математической обработки профилограмм и расчета фрактальных размерностей копий первых восьми полей сенситометрической шкалы СПШ —К сведены в табл. 7.4. Как показывает анализ табл. 7.4, с увеличением оптической плотности поля шкалы СПШ —К фрактальная размерность микропрофиля поверхности поля печатной формы уменьшается. [c.260] Зависимость фрактальной размерности от экспозиции, полученной слоем под шкалой СПШ —К, достаточно хорошо аппроксимируется логарифмической функцией /) = 0,1391пЯ +0,381. [c.261] Проведенное исследование подтвердило фрактальный характер рассмотренных процессов и продемонстрировало возможность использования предлагаемого подхода для прогнозирования свойств микроструктуры поверхности офсетных печатных пластин. [c.261] Вернуться к основной статье