ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Новые конструкции механических и оптико-механических профилографов из "Основы шупового метода определения шероховатости поверхности " В 1944 г. в лаборатории Г. Апарина (МВТУ) была разработана конструкция механического профилографа на базе микрокатора — прибора для линейных измерений. Запись профилограм.мы осуществлялась посредством падающей дужки. Конструкция не получила дальнейшего развития, так как встретились затруднения, связанные с большой нестабильностью показаний первых образцов микрокатора. Однако идея использования микрокатора для определения чистоты поверхности оказалась правильной. [c.80] Принципиальная схема Индикатора поверхности 533 изображена на фиг. 57. Основным элементом прибора является пружинная система микрокатора. Весьма малые осевые перемещения иглы 2, ощупывающей поверхность через кинематическую связь, передаются рычажной пружине 3, соединенной с тонкой лентой 10, одна половина которой скручена вправо, а другая—влево. В середине ленты прикреплена стрелка 9. При перемещении иглы усилие, растягивающее ленту, или увеличивается, или уменьшается, вызывая меньшее или большее скручивание ленты, и тем самым соответствующий поворот стрелки. [c.81] Отсчет показаний берется по шкале 8, расположенной в корпусе 7 индикатора. Результирующее усилие на иглу составляет величину порядка 0,3 гс. Прибор имеет три опоры 4, 5 и 6, армированные твердым сплавом. В середине одной из опор 4 расположена игла. С помощью винта 1 опора 4 может перемещаться и тем самым осуществляется контакт иглы с исследуемой поверхностью. Благодаря рациональному расположению иглы и опоры можно просто производить измерение чистоты поверхностей изделий различной конфигурации. Прибор снабжен алмазной иглой с закруглением при вершине радиусом г= 10 мк. [c.81] Как это видно из схемы, Индикатор поверхности 533 показывает значение высоты неровности в каждой данной точке микропрофиля. Поэтому с его помощью легче всего измерять полную высоту неровностей поверхностей с регулярным профилем. Однако не исключена возможность контроля прибором шлифованных и других поверхностей с целью отнесения их к тому или иному классу чистоты. При измерениях прибор необходимо перемещать вдоль поверхности. В простейшем случае прибор перемещают от руки. Если желательно иметь более точное суждение о профиле или построить профилограмму, то передвижение можно осуществить посредством микрометрического винта. [c.81] На фиг. 58 изображен Индикатор поверхности 533 , закрепленный в приспособлении 589. Контролируемая цилиндрическая деталь лежит на призме и перемещается относительно прибора с помощью микрометрического винта, снабженного отсчетным барабаном. Для контроля чистоты поверхностей больших валов и шеек коленчатых валов к прибору прилагаются специальные приспособления (Л Ь 534—3 и 1535). С помощью прибора молено также производить измерение чистоты поверхности в отверстиях иа небольшой глубине диаметром от 30 мм и на боль-ошх глубинах — диаметром от 60 мм. [c.81] В настоящее время Индикатор поверхности 533 выпускается в пяти модификациях, технические характеристики которых приведены в табл. 16. [c.81] Как видно из табл. 17, имеется вполне удовлетворительное совпадение данных, полученных на двух приборах. Некоторое расхождение объясняется не только погрешностями отсчета на результат оказала влияние также и неоднородность образцов. [c.82] Отличительной особенностью прибора Индикатора поверхности 533 является его малый вес— 100 г и габариты—50X50X75 мм. [c.82] По методу прерывистого ощупывания с отсчетом перемещения иглы от образцовой поверхности работает оптико-механический. [c.82] Недостатко.м профилографа Лейца являются сравнительно малые вертикальные увеличения. В этом отношении разработанные в последнее время отечественные оптико-механические профилографы ММИ-2 и МИФИ-2. ВЫГОДНО отличаются от описанного прибора и имеют при небольших габаритах увеличения до 4000 . [c.83] Во ВНИИМ им. Менделеева А. Карташевым предложен профилограф, в котором игла связана с подвижным зеркалом микроинтерферометра. Благодаря этому стало возможным получать увеличения больше 40 000Х. [c.83] Вернуться к основной статье