ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Косвенное исследование структуры металлов с помощью слепков (реплик) из "Металлы и сплавы Справочник " В большинстве случаев металлографический образец непрозрачен для электронов. Поэтому с помощью электронного микроскопа просвечивающего типа невозможно изучать его структуру непосредственно и приходится прибегать к косвенному методу исследования. [c.32] Правильной трактовке изображения рельефа иногда может существенно помочь прицельная монтировка слепка на объект-диафрагму, позволяющая рассматривать одно и тоже место шлифа под световым и электронным микроскопами. [c.33] Наконец, очень ценные и, главное, прямые данные о фазовом составе и состоянии гребней рельефа на поверхности протравленного шлифа дает электронно-дифракционная съемка на отражение (точнее — на просвет тонких выступов) при очень малых ( 1 град.) углах падения электронного пучка. [c.33] В зависимости от сложности структуры нужно использовать в той или иной степени все возможности для получения объективных данных о происхождении тех или иных деталей рельефа, передаваемых слепком. [c.33] Вернуться к основной статье