ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Спектральный метод анализа закритических деформаций из "Нелинейные задачи статистической динамики машин и приборов (БР) " В выражении (7.9) Sq (к) и S (k) — спектральные плотности поля начальных отклонений ы о (х) и поля, характеризующего полное нормальное перемещение точек срединной поверхности W (х). [c.200] Вместе с соотношениями (7.8) и (7.9) уравнения (7.10) и (7.11) образу ют замкнутую систему относительно трех неизвестных — ш, S (/г), Si Щ. [c.201] При заданной спектральной плотности начальных неправильностей решение может быть доведено до конечных численных результатов. [c.202] При этом критический параметр превышает верхнее критическое значение Vfl = 1. Такое превышение можно объяснить увеличением средней жесткости ансамбля оболочек за счет гофрировки. [c.204] Наконец, третий случай описывает известное явление, возни-каюш,ее при больших начальных вмятинах. Оно состоит в том, что и бе з нагружения искривленные оболочки имеют, по крайней мере, два устойчивых положения равновесия — первоначальное и смежное, в которое оболочка может перейти хлопком. В дравнивание поверхности может произойти только при отрицательной (т. е. растягивающей) нагрузке. [c.204] Полученный здесь результат аналогичен результату исследования нелинейных случайных колебаний, описываемых уравнением Дуффинга. Как показано в гл. 5, при узкополосных случайных воздейстйиях также получаются неоднозначные решения, отра-жаюш,ие явление затягивания амплитудно-частотных характеристик и перескока отдельных реализаций с одной устойчивой ветви на другую. Статистическое истолкование полученных результатов нуждается в дополнительных пояснениях. [c.204] Вернуться к основной статье