Энциклопедия по машиностроению XXL

Оборудование, материаловедение, механика и ...

Статьи Чертежи Таблицы О сайте Реклама
При одновременном влиянии инструментальных и физических факторов суммарный профиль линии Я (20) является сверткой функций физического Я(29) и инструментального G(20) уширения, т. е.

ПОИСК



Устройство рентгеноспектрального микроанализатора

из "Металловедение и термическая обработка стали Т1 "

При одновременном влиянии инструментальных и физических факторов суммарный профиль линии Я (20) является сверткой функций физического Я(29) и инструментального G(20) уширения, т. е. [c.141]
Эффект дисперсности может быть связан с образованием в материале блоков малого размера, границей которых является стенка дислокаций, и с дефектами упаковки. [c.141]
Если в изучаемом материале действуют оба фактора уширения, то суммарный физический профиль линий является также сверткой функции уширения от дисперсности М(2Э) и микродеформаций Я(20), т. е. f(20) = J Л4(20)ЯХ X(2e-y)dy (51). [c.141]
Для разделения этих эффектов применяют уже упоминавшиеся методы аппроксимации или гармонического анализа [10, 14, 74], которые используют для анализа профиля обязательно двух линий, в общем случае отличающихся лишь порядком отражения (например, HKL и 2H2K2L). [c.141]
Многочисленные измерения, проведенные на деформированных массивных материалах (не порошках), показали, что угловая зависимость уширения пропорциональна tg 0. [c.142]
Пинес Б. Я. Лекции по структурному анализу. Харьков. Изд. ХГУ, 1957. 455 с. [c.142]
Рентгеноспектральный микроанализ (РСМА) используется для исследования распределения компонентов и примесей в сталях и сплавах [1—10], при этом обеспечивается разрешение порядка микрометров. [c.144]
Методом РСМА определяют химический состав микрообластей на металлографическом шлифе. Информация такого рода необходима при изучении дендритной ликвации, микросегрегации, диффузии, идентификации включений и фазовых составляющих в сплавах и др. [c.144]
Метод был разработан в конце 40-х — начале 50-х годов независимо друг от друга Кас-теном и И. Б. Боровским. [c.144]
Сканирование с регистрацией на электроннолучевой трубке тока поглощенных или отраженных электронов дает качественную оценку среднего атомного номера составляющих на разных участках шлифа, а сканирование с регистрацией тока вторичных электронов позволяет судить о рельефе исследуемой поверхности. Последнее обстоятельство дает возможность использовать микрозонды и как растровые электронные микроскопы. [c.144]
Оснащение приборов компьютерами облегчает труд оператора благодаря автоматизации ряда операций и математической обработке результатов эксперимента, а также ускоряет анализ. [c.145]


Вернуться к основной статье

© 2025 Mash-xxl.info Реклама на сайте