ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Методика исследования металлов с помощью РЭМ из "Металловедение и термическая обработка стали Т1 " Примечания 1—4 — элементы симметрии, присущие как точечным, так и пространственным группам 5—7 — элементы симметрии, присущие пространственным группам. [c.96] Кубическая типа алмаза. [c.98] Кристаллические структуры чистых металлов (а также многих металлических сплавов— твердых растворов) имеют атомный характер и узлы решетки Бравэ представляют центры атомов (точнее, положительных ионов) — частиц, имеющих сферическую симметрию. Исходя из принципа плотной шаровой упаковки, действующего в случае ионной и металлической химической связи, определяется атомный (металлический) радиус как половина расстояния между центрами соприкасающихся атомов (ионов) (табл. 5.4). Простой расчет позволяет оценить коэффициент заполнения, т. е. долю (в процентах) объема решетки кристалла, занятого атомами или ионами (см. табл. 5.3). [c.98] У металлов наиболее распространены решетки, отличающиеся высокой компактностью I- и Г-решетки кубической сингонии (о. ц. к. и г. ц. к.), а также гексагональная компактная решетки (гекс. к) — рис. 5.3. В табл. 5.3 наряду с кристаллическими структурами атомного характера, в которых каждому узлу решетки Бравэ соответствует один атом (ион), включены две кристаллические структуры — кубическая типа алмаза и гексагональная компактная, которые приводятся к решеткам Бравэ, если узлы взять в центрах тяжести пары соседних атомов. [c.98] Примечание. Периоды решеток даны с точностью до единицы в последнем знаке. [c.100] Следующим приближением к описанию внутренней структуры кристаллов являются пространственные (или федоровские) группы — совокупности элементов симметрии, действующих на систему трансляций или на ячейку Бравэ (элементы симметрии дисконтинуума— пп. 5—7 в табл. 5.1). Всего получается 230 пространственных групп (Пр.гр.). Символ Пр. гр. включает символ ячейки Бравэ и далее символы осей симметрии или нормалей к плоскостям симметрии вдоль так называемых главных трансляционных направлений, которые для разных сингоний выбираются по-разному, а именно для кубической [001], [111], [ПО] для гексагональной, тетрагональной, ромбоэдрической [001], [010], [110] для ромбической [001], [010], [100] для моноклинной [010] в триклинной СИНГОНИЙ нет осей симметрии или плоскостей симметрии. [c.101] Действие совокупности элементов симметрии на вектор трансляции зависит от положения точки — конца этого вектора по отношению к этим элементам — и определяет кратность точек разного положения. С получаемыми таким образом правильными системами точек связаны координаты базиса для разных сортов атомов так, чтобы кратность точек соответствовала стехиометрическим соотношениям для вещества. Рентгеноструктурный анализ в общем случае позволяет установить так называемую рентгеновскую или дифракционную группу — симметрию обратной решетки кристалла, которая отличается от симметрии кристалла (Пр. гр.) тем, что всегда содержит центр инверсии. [c.101] В основе обозначения — химический состав для обозначения структур простых веществ (элементов) используют букву А (А1 — г, ц. к., А2 — о. ц. к., A3 — г. п., A4—кубическая типа алмаза и т. д.), для обозначения бинарных соединений равноатомного состава XY — букву В, для соединений XY — букву С, для пУт — букву О для фаз металлических сплавов в свое время было введено обозначение L (от немецкого Legierungen) цифры не имеют специального содержания и отражают хронологическую последовательность учета данного структурного типа дополнительная буква в индексе первоначально носила характер временного обозначения. [c.101] Кристаллографические индексы направлений (и плоскостей) определяют положение в пространстве кристалла семейства параллельных прямых (и плоскостей), проходящих через узлы ПР. Основной характеристикой кристаллографического направления является период идентичности (/и,с,ш) — расстояние между соседними узлами основная характеристика кристаллографической плоскости (точнее, семейства плоскостей) — межплоскостное расстояние (дькс). [c.102] Символ направления [ппш] включает три взаимно простых целых числа, пропорциональных координатам любого узла, который лежит на узловой прямой, проходящей через начало координат (рис. 5.4). [c.102] Формулы для других сингоний в табл. 5.8. [c.105] Индексы оси зоны определяются через индексы принадлежащих ей двух плоскостей и= к к—п== 1/12—щ — 1 2— 2 1. [c.105] Квадратичные формы для всех сингоний даны в табл. 5.9. [c.105] вектор обратной решетки г по модулю равен обратной величине межплоскостного расстояния г = /йкы (при и=1) и направлен по нормали к соответствующей плоскости ПР. Схема рис. 5.11, а отличается от схемы рис. 5.10, в только тем, что изображает не один, а несколько векторов г, исходящих из точки О следы соответствующих плоскостей ПР (Р на рис. 5.10, б, в) здесь уже не показаны. Концы векторов г упираются в точки— узлы ОР. [c.111] Здесь V — объем элементарной ячейки ПР кристалла а, р, у—углы между координатными осями кристалла. [c.112] Присутствие центра инверсии в ОР объясняет отмеченное раньше (п. 5,2.1) ограничение в определении Пр. гр. непосредственно по дифракционной картине устанавливается дифракционная группа. Центр инверсии не всегда явным образом присутствует в расположении дифракционных максимумов (рефлексов) на рентгенограммах только потому, что рентгенограмма представляет собой сложное сечение и некоторую проекцию (в соответствии с геометрией укладки фотопленки) определенной области ОР. [c.112] Вернуться к основной статье