ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Стереология (количественная металлография) (К. С. Чернявский) из "Металловедение и термическая обработка стали Т1 " Наибольшие аналитические возможности РЭМ связаны с определением локальной химической неоднородности исследуе.ухых материалов с помощью отраженных электронов, Оже-электронов и локального рентгеноспектрального анализа. [c.70] Рентгеновские микроанализаторы [17] появились независимо от РЭМ, однако сейчас уже трудно представить себе РЭМ без приставок для рентгеновского микроанализа (РЛ 1А), Оба прибора очень хорошо дополняют друг друга. [c.70] Современные РЗМ позволяют проводить ос-циллографическ чо запись распределения анализируемого элемента по любой строке растра и получать изображение в характеристическом рентгеновском излучении. [c.70] С помощью Оже-электронов можно получить информацию о строении тонких поверхностных слоев объекта (например, сегрегации элементов у границ зерен при межзеренном разрушении). Особая чувствительность метода Оже-электрон-ной спектроскопии вызывает необходимость получения в таких приборах сверхвысокого вакуума (10 —10 Па). [c.70] Такого рода исследования с по.мощью РЭМ возможны благодаря эффекту каналирования электронов. [c.70] При определенных условиях сканирования можно обнаружить дефекты кристаллической решетки и их плотность, отличить более искаженные фасетки внутризеренного скола от менее искаженных фасеток межзереиного разрушения, выявить границы пластически деформированной зоны вблизи вершины трещины, вдавливания нндентора и т. д. [c.71] На рис. 3.8, а в качестве примера приведено изображение в режиме каналирования электронов скола поликристаллического молибдена. [c.71] В поле зрения три зерна с различной интенсивностью освещенности, обусловленной тем, что в каждом зерне существует собственная картина каналирования, присущая кристаллографической ориентировке зерна. На рис. 3.8, б приведена картина каналирования от одного из зерен. [c.71] Применение в металловедении просвечивающей и растровой электронной микроскопии. Материалы семинара-конференции. М. МДНТП, 1976. 169 с. [c.72] Вернуться к основной статье