ПОИСК Статьи Чертежи Таблицы Магнитные и сверхпроводящие материалы из "Новые материалы " НО получить практически идеальное 2/)-изображение и моделировать структуру с помощью компьютера. К сожалению, это довольно редкий случай и исследователь вынужден довольствоваться тем, что электронный луч параллелен оси зоны с низкими индексами только одного из смежных зерен в этом случае в соседнем зерне может наблюдаться лишь полосчатый контраст от проекции атомных плоскостей на плоскость изображения. [c.496] Для наглядной демонстрации возможностей метода ПЭМ ВР на поперечных срезах рассмотрим несколько примеров. Известно, что рост пленок может сопровождаться формированием слоистой структуры, параметры которой можно выявить только путем проведения ПЭМ на поперечных срезах. Так, на рис. 7.7 видно, что при осаждении пленки кремния на кремниевую подложку сначала образуется тонкий аморфный слой, который далее трансформируется в мелкокристаллический слой, состоящий из равноосных зерен, и далее в слой с колонной структурой с боковым размером зерен 0,3... 1 мкм. [c.499] ПЭМ ВР на поперечных срезах также позволяет анализировать границу раздела покрытие/подложка, что дает возможность судить не только об их кристаллографической связи, но и о механизме роста пленок. Известно, что поверхность подложки, как правило, не является атомистически плоской и может содержать различные неровности (ступеньки роста, дефекты полировки и т.д.). В то же время в литературе имеется довольно ограниченное количество данных по влиянию нанорельефа поверхности подложки на морфологию тонких пленок. [c.500] ПЭМ ВР становится важным инструментом и в исследовании поверхности твердых тел, особенно наноструктурных материалов, где возможности традиционных методов анализа поверхности, таких как сканирующая электронная микроскопия (СЭМ), сканирующая туннельная микроскопия (СТМ) и др., ограничены. Совсем недавно ПЭМ ВР хорошо себя зарекомендовала для локального анализа тонкого приповерхностного слоя наноматериалов. Так, в основе субплантационной модели роста -BN лежит гипотеза о том, что на поверхности растущего -BN образуется монослой л/ -связанного BN. Для проверки этой гипотезы были выполнены исследования структуры приповерхностного слоя -BN с помощью ПЭМ ВР на поперечных срезах [3]. Установлено, что верхний слой пленки содержит чистый -BN, что свидетельствует о послойном гомоэпитаксиальном росте -BN. [c.502] Эффективное развитие современной техники немыслимо без использования новых материалов, обладающих различными, сложными комплексами физических свойств. Особое место среди этих материалов занимают магнитные и сверхпроводящие материалы, которые широко используются в электро- и радиотехнической, аэрокосмической и ядер-ной, электронной и приборостроительной отраслях промышленности, при создании новых ЭВМ и микропроцессоров. [c.506] Анализ современной научной литературы и материалов последних конференций показывает, что именно магнитные и сверхпроводящие материалы испытывают в последнее время наиболее бурное развитие, часто уже известные материалы находят все новое применение или для них разрабатываются новые технологии, повышающие уровень их свойств или позволяющие найти для этих материалов новое применение. [c.506] В настоящем разделе подробно рассмотрены исторические аспекты развития магнитных и сверхпроводящих материалов и дан эвристический прогноз их дальнейшего развития. Дан обзор новых достижений в развитии свойств этих материалов, новых технологических приемов их получения и описаны примеры практического применения. При рассмотрении конкретных вопросов использованы результаты исследований, проведенных в рамках раздела Магнитные и сверхпроводящие материалы подпрограммы Новые материалы НТП Научные исследования высшей школы по приоритетным направлениям науки и техники . [c.506] Вернуться к основной статье